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    GeminiSEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

    簡(jiǎn)要描述:場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡。它利用電子束與樣品表面相互作用,通過(guò)檢測和分析電子束與樣品之間的相互作用信號,可以提供關(guān)于樣品形貌、表面結構和化學(xué)成分的詳細信息。

    • 產(chǎn)品型號:
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    • 更新時(shí)間:2023-10-07
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2969

    詳細介紹

    應用領(lǐng)域化工
      一、產(chǎn)品描述:
     
      長(cháng)久以來(lái),蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無(wú)論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿(mǎn)足您的需求。創(chuàng )新的電子光學(xué)系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒(méi)式物鏡依然可以輕松實(shí)現1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內容可以使您進(jìn)一步了解Gemini電子光學(xué)系統的三大*設計,探索蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應用潛能。
     
      場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡。它利用電子束與樣品表面相互作用,通過(guò)檢測和分析電子束與樣品之間的相互作用信號,可以提供關(guān)于樣品形貌、表面結構和化學(xué)成分的詳細信息。
     
      具有以下特點(diǎn)和優(yōu)勢:
     
      1. 高分辨率:具有很高的空間分辨率,可以觀(guān)察到納米級的細節和結構。
     
      2. 大深度焦距:具有較大的深度焦距,使得整個(gè)樣品表面都能夠獲得清晰的圖像。
     
      3. 大視場(chǎng):具有相對較大的視場(chǎng),可以同時(shí)觀(guān)察到較大范圍的樣品表面。
     
      4. 高靈敏度探測器:采用高靈敏度的探測器,可以檢測和收集來(lái)自樣品的不同類(lèi)型信號,如二次電子、反射電子、透射電子等,從而實(shí)現對樣品性質(zhì)的多方面表征。
     
      5. 化學(xué)分析能力:可以結合能譜儀(EDS或WDS)進(jìn)行元素分析,從而確定樣品的化學(xué)成分。
     
      6. 表面形貌表征:可以觀(guān)察和研究不同材料的表面形貌、紋理和拓撲結構。
     
      7. 應用廣泛:在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、半導體制造等領(lǐng)域具有廣泛的應用,對于研究和開(kāi)發(fā)新材料、表征材料性能和質(zhì)量控制具有重要作用。
     
      總之,場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種強大的工具,可以提供高分辨率的圖像和詳細的樣品信息,對于各種科學(xué)研究和工程應用都具有重要價(jià)值。
     
    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
           二、特征
     
      1、更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的GeminiSEM 360可以實(shí)現各種樣品的高分辨成像、分析和各種應用需求的拓展。
     
      2、更強大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的GeminiSEM 460可應對更加復雜的分析工作。連續可調的大束流使您可以在成像和分析條件之間無(wú)縫切換。
     
      3、更gao端的表征體驗 - GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎,讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列最chu色的分辨率特性。
     
      蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360
     
    蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360
    兩個(gè)平行設計的鏡筒內探測器為樣品表征提供更全面的信息
    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460
     
    蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460
    幫助您快速分析的同時(shí)兼顧大束流和高分辨。
    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    讓您的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460成為原位實(shí)驗室。
    蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560
     
    蔡司GeminiSEM 560
    在低電壓下表征不導電礦物顆粒的表面:GeminiSEM 560,800 V, Inlens SE。
    最佳成像條件:釹鐵硼磁鐵的磁疇襯度
    “應用量子技術(shù)中心”對什么樣的研究感興趣?
     
    Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應用量子技術(shù)中心。
    Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應用量子技術(shù)中心。
    聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過(guò)注塑成型生產(chǎn)。
    聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過(guò)注塑成型生產(chǎn)。
     
      斯圖加特大學(xué)應用量子技術(shù)中心ZAQuant的Mario Hentschel博士描述了該小組正在研究的課題和應用、在實(shí)驗室中面臨的挑戰以及如何利用蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560應對這些挑戰。
     
      “我們正在研究光學(xué)感應和檢測應用中最復雜的微結構和納米結構。因此,我們必須在納米尺度檢查和表征我們的器件。深入了解樣品信息不僅是過(guò)程控制和優(yōu)化的核心,在解釋感應和檢測方案中涉及的局部現象時(shí)也必bu可少。除了單純的表面形貌信息外,我們也對納米材料組成分以及有意和無(wú)意的局部雜質(zhì)感興趣。
     
      "所有這些應用都要求電子顯微鏡具有高分辨率與樣品適用性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以很好地兼顧這兩點(diǎn)。它提供豐富的探測器選擇,從而能夠對表面高低起伏、材料襯度、表面邊緣以及樣品的所有不同特征進(jìn)行成像和突出顯示。在日常工作中,我們經(jīng)常面對差異極大的樣品如形狀大小不同材料組成不同,給顯微表征帶來(lái)了很大的挑戰。我們能夠對要求極為嚴苛且高難度的樣品(例如高度絕緣的聚合物和塑料)拍出高質(zhì)量的圖像,使荷電效應的影響極小化。該系統可以在低倍和*的放大倍率下成像。在不久的將來(lái),場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560將被安裝在斯圖加特應用量子技術(shù)中心(ZAQuant)新建研究大樓的潔凈室中。ZAQuant的主要研究人員來(lái)自物理、機械、電氣工程、化學(xué)等不同領(lǐng)域,其應用千差萬(wàn)別,因此不僅要保持優(yōu)異的成像性能,還必須確保樣品適用性。因此,場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560無(wú)疑將成為實(shí)驗表征的利器。”
     
      DE.Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應用量子技術(shù)中心。
     
     

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