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    日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

    簡(jiǎn)要描述:波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監測、金屬分析等領(lǐng)域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無(wú)損的方法來(lái)確定樣品中各種元素的含量,幫助科學(xué)家和工程師進(jìn)行研究和質(zhì)量控制。

    • 產(chǎn)品型號:ZSX Primus III+
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    • 更新時(shí)間:2023-10-07
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2546

    詳細介紹

    品牌其他品牌行業(yè)專(zhuān)用類(lèi)型其它
    價(jià)格區間面議儀器種類(lèi)臺式/落地式
    應用領(lǐng)域環(huán)保,能源
      一、產(chǎn)品描述:
     
      X射線(xiàn)管位于分析樣品上方,zui大程du減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風(fēng)險,并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。
     
      可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到理想狀態(tài)。
     
      該光譜儀使用波長(cháng)色散技術(shù),通過(guò)將入射的X射線(xiàn)束通過(guò)晶體進(jìn)行衍射,使不同能量的X射線(xiàn)在探測器上形成不同位置的信號峰。這些信號峰對應于不同元素的特定能級躍遷。通過(guò)測量這些信號峰的強度和位置,可以確定樣品中各種元素的含量。
     
      波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監測、金屬分析等領(lǐng)域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無(wú)損的方法來(lái)確定樣品中各種元素的含量,幫助科學(xué)家和工程師進(jìn)行研究和質(zhì)量控制。
     
    二、特點(diǎn):
     
      1、實(shí)現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析
     
      3、高精度定位樣品臺滿(mǎn)足合金分析高精度要求
     
      3、特殊光學(xué)系統減少樣品表面不平而引起的誤差
     
      4、樣品室可簡(jiǎn)單移出方便清潔
     
      5、操作界面簡(jiǎn)潔、自動(dòng)化程度高
     
      三、 產(chǎn)品性能
     
      Rigaku ZSX Primus III +以很少的標準在各種樣品類(lèi)型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。
     
      1、高于光學(xué)元件的管道,可靠性更高
     
      ZSX Primus III +具有創(chuàng )新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結構消除了清潔問(wèn)題并延長(cháng)了使用時(shí)間。
     
      2、高精度樣品定位
     
      樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線(xiàn)管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析,旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒
     
      3、使用EZ-scan軟件的SQX基本參數
     
      EZ掃描允許用戶(hù)在未事先設置的情況下分析未知樣品。節省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標并輸入樣品名稱(chēng)。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應,包括線(xiàn)重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應。使用匹配庫和完mei的掃描分析程序可以提高準確度。
     
      四、特征:
     
      1、元素從O到U的分析
     
      2、管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題最小化
     
      3、占地面積小,使用的實(shí)驗室空間有限
     
      4、高精度樣品定位
     
      5、特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
     
      6、統計過(guò)程控制軟件工具(SPC)
     
      7、吞吐量可以?xún)?yōu)化疏散和真空泄漏率
     

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